X射线衍射（XRD）是一种用于分析材料晶体结构的技术。它基于布拉格定律，该定律描述了当X射线以特定角度入射到晶体表面时发生的反射现象。通过这一过程，科学家能够确定材料内部原子排列的方式。
在进行XRD测试时，样品会被放置在一个转盘上，并且X射线源会从不同的角度照射到样品上。检测器则负责记录下反射回来的X射线强度和位置信息。这些数据随后被用来创建一个称为“衍射图谱”的图表，其中包含了关于材料晶体结构的重要细节。
每个独特的晶体结构都会产生其特有的衍射模式，因此通过对这些图案的研究可以识别出未知物质或者验证已知化合物的存在。此外，还可以利用XRD来测量晶粒尺寸、应力状态以及某些物理化学性质等信息。
总之，XRD作为一种非破坏性的表征手段，在材料科学领域具有广泛的应用价值。无论是对于基础研究还是工业生产而言，掌握好这项技术都是非常有意义的。
